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Olympus測(cè)厚儀的正確使用方法
點(diǎn)擊次數(shù)：1921 更新時(shí)間：2017-05-08
Olympus測(cè)厚儀可以對(duì)幾乎任何材料進(jìn)行的測(cè)量。這些測(cè)厚儀功能齊備，可極大地提高儀器的測(cè)量性能。超聲測(cè)厚儀幾乎可以對(duì)大部分材料進(jìn)行測(cè)量，其中包括塑料、金屬、金屬?gòu)?fù)合材料、橡膠及內(nèi)部腐蝕的材料。
45MG儀器是一款帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的超聲測(cè)厚儀。這款*的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測(cè)厚探頭相兼容。
Olympus測(cè)厚儀的使用方法
用途廣泛的38DLPLUS既可與雙晶探頭一起使用，測(cè)量腐蝕的管道，也可與單晶探頭一起使用對(duì)薄材料或多層材料進(jìn)行極為的厚度測(cè)量。
袖珍型26MG超聲測(cè)厚儀使用雙晶探頭完成腐蝕測(cè)厚應(yīng)用。重量?jī)H為0.24公斤（8.5盎司），具有如自動(dòng)探頭識(shí)別、快速zui小模式、長(zhǎng)時(shí)電池壽命等基本性能。
35RDC是一款簡(jiǎn)單的Go/No-Go（快速確定產(chǎn)品合格/不合格）的超聲測(cè)厚儀，用于探測(cè)飛行器復(fù)合結(jié)構(gòu)材料受到撞擊而產(chǎn)生的近表面缺陷。
Magna-Mike是一款使用磁性探頭對(duì)塑料瓶等非鐵性薄材料進(jìn)行厚度測(cè)量的霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀。
Olympus為和腐蝕測(cè)厚應(yīng)用提供各種各樣的單晶和雙晶探頭及附件。
可與雙晶和單晶探頭兼容。
寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測(cè)厚。
穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能，用于測(cè)量表面帶有漆層和涂層的材料。
內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。
對(duì)于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
使用頻率范圍為2.25MHz～30MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測(cè)量。
多層軟件選項(xiàng)可對(duì)多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。
高穿透軟件選項(xiàng)用于測(cè)量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
厚度、聲速和渡越時(shí)間測(cè)量。
差分模式和縮減率模式。
時(shí)基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。
Olympus測(cè)厚儀的使用方法?帶有數(shù)字式過(guò)濾器的Olympus高動(dòng)態(tài)增益技術(shù)。
用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。
戶(hù)外顯示設(shè)置，A掃描模式室內(nèi)顯示設(shè)置，B掃描模式
可用右手或左手單手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)。
可直接訪(fǎng)問(wèn)所有功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面。
內(nèi)置和外置MicroSD存儲(chǔ)卡。
USB和RS-232通訊端口。
可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器。
可連接計(jì)算機(jī)或顯示器的VGA輸出。
默認(rèn)或自定義雙晶探頭設(shè)置。
默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置。
密碼保護(hù)功能可以鎖住儀器的功能。
用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動(dòng)探頭識(shí)別功能。
10個(gè)自定義雙晶探頭設(shè)置。
校準(zhǔn)過(guò)程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。
用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
校準(zhǔn)過(guò)程中出現(xiàn)回波加倍時(shí)使用的校準(zhǔn)加倍功能。
Olympus測(cè)厚儀的使用方法?用于測(cè)量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測(cè)量功能。
高溫測(cè)量：溫度可高達(dá)500°C。
鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測(cè)量（可選項(xiàng)），使用M2017或M2091單晶探頭。
EMAT探頭（E110-SB），用于對(duì)外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測(cè)量
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